Micro Crack, sono delle microfratture invisibili all’occhio che possono interrompere il collegamento elettrico tra zone della cella riducendone la produzione; queste microfratture, rilevabili con l‘EL.Test,sono spesso causate da maltrattamenti del modulo durante il trasporto o il montaggio.

La Contaminazione è dovuta alla formazione di impurità nella cella fotovoltaica a causa di elementi estranei nella delicata fase di drogaggio del wafer di silicio. Si verifica specialmente nelle celle multicristalline che derivano dalla fusione e successiva ricristallizzazione del cosiddetto ‘’scraps’’ ossia il silicio di scarto.

La contaminazione è un difetto presente dalla nascita del modulo e sembra non peggiorare la produttività del modulo, tuttavia può contribuire al declassamento del modulo ad una potenza inferiore.

Sono dovuti alla lavorazione del lingotto di silicio nella realizzazione del pannello, dal taglio in celle e dal posizionamento sul modulo, questi piccoli segni si ripresentano spesso su più celle dello stesso pannello.

Questi difetti sono presenti dalla nascita del pannello quindi non peggiorano ulteriormente la potenza, semplicemente possono declassarlo ad una categoria di potenza inferiore.